サーマル電界放出形走査電子顕微鏡 　日本電子(株)　JSM-7600F 　　Scanning Electron Microscope (SEM) 　真空中で試料を拡大観察します。最高倍率100万倍。微小領域の分析が可能な、EDS（日本電子製）も付属しています。セミインレンズサーマルFE電子銃とSDD検出器の組み合わせで、精細な観察と高速な分析を可能としています。
イオンスパッタ 　日本電子(株)　 JEC-3000FC 走査電子顕微鏡の試料作製装置として、生物などの非導電性試料への各種金属コーティングを短時間に効率的に行える装置です。
フーリエ変換赤外分光光度計 日本分光（株）　FT/IR-4200+IRT-3000 Fourier Transform Infrared Spectrophotmeter (FT-IR) 　定性分析：官能基分析、パターン分析など　主として有機化合物の定性分析などに利用できます。
観察型１回反転ATR（FT/IRオプションユニット） 日本分光（株）　ATR PRO ONE VIEW（ダイヤモンドプリズム） 　小型のビデオカメラを内蔵し、試料を観察することができる観察型ＡＴＲです。プリズム上に置いた試料を観察できるため、確実にセットすることができ、試料の特定の部位を選択して測定することも可能です。